8月19日，由国际物联网贸易与应用促进协会主办，物联传媒承办，深圳市物联网产业标准联盟、广东省物联网公共技术支持中心协办的2016深圳国际RFID世界应用创新大会在深圳会展中心3号馆成功举办。本次会议吸引了大量行业精英、专家学者参加。其中，深圳千兆科科技有限公司(CISC)市场及营销总监罗海涛先生为与会者带来了题为“如何通过正确的测试保证RFID/NFC标签及读写器的品质?”的精彩演讲。

深圳千兆科科技有限公司(CISC)市场及营销总监罗海涛先生

　　据介绍，CISC成立于1999年，是100%私有制公司，拥有超过20年RFID工作经验的国际顶尖团队管理，服务于全世界的RFID行业。

　　罗总指出，CISC RFID+NFC由长期富有国际声誉的RFID/NFC专业团队组成，通过其的解决方案能提升RFID/NFC产品及系统性能。CISC是一家测量工具供应商，提供RFID及NFC规范性、性能及互通性测试。作为RFID领域标准引领者，CISC在RFID标准中扮演的角色。

　　据悉，传统RFID测试方式主要通过网络分析仪(VNA)和频谱分析仪等设备组合实现，然而问题在于以“矢量信号源+示波器+频谱分析仪+软件等”方式，测试很复杂，价格也很贵。在技术上，独立的测试仪器存在不少缺陷，例如：网络分析仪(VNA)的功率等级变换问题，不同指令的能量，输入阻抗变化等;频谱分析仪如何测试标签性能(激活功率、读取范围)、读写器接收灵敏度、读写器和标签仿真等。

　　针对以上的这些疑难问题，CISC带来了RFID Xplorer。资料显示，Xplorer是一台多功能RFID测试设备，它可以进行多种RFID性能测试，包括标签性能测试、规范性测试、读写器测试及Inlay测试等。

　　罗总指出，CISC RFID Xplorer是一套紧凑的高精度的RFID测量仪器，可用于测量RFID设备和应用装置的性能、验证规范性，支持读写器、标签和芯片的开发，也可用于标签生产线的测量。Xplorer的主要特征为：高精密度、使用快捷方便、标签测试和读写器测试、全自动化、自动校准、自控使用GUI或API功能、兼容单收发安装。

　　在性能测试方面，Xplorer能提供标签的主要特性(激活功率、反向散射功率、读取范围、场强等)，标签存取测试，读/写内存测试，分析多个标签，区域内所有标签的库存量，分析众多标签中选出的标签，比较多个标签的性能，帮助用户选择产品的最佳点来安放标签。

　　在规范性测试方面，Xplorer用于预测量Gen2 V2、SINIAV、 ARTESP 和 Brasil_ID协议的规范性，拥有一套标准化的测试序列。它支持芯片设计验证，其带有丰富测试能力包括标签存取测试如读/写内存测试、时序测量、频率vs. 响应强度测试和功率级别和其它测试。

　　在读写器测试(监听)方面，Xplorer在监听模式下用于分析读写器和标签之间的通信，读卡器-标签通信的实时记录，记录带宽高达50 MHz，进行频率分析、数据内容分析，实现读写器指令和标签响应的自动检测、读写器天线辐射模型测量。

　　在针对生产线测试时，Xplorer不只是Go/NoGo测试.，还能测试最小功率/读取范围或其他更多。

　　为了方便与会者更好的了解CISC Xplorer，罗总在会上还以几个测试实例进行了精要的应用说明。

　　实例一，选择正确的标签或Inlay来确保最佳的读取率。指出了UHF RFID 标签测试步骤、基于频率的灵敏度、读取范围、不同读写器的读取范围、不同地区的读取范围、方向变化的标签灵敏度、反向散射范围、找到标签范围的极限因素、临界性能等几个重要方面。

　　实例二，理解规范性及真实产品的不同。强调了全自动规范性测试、测试报告New Gen2V2+Crypto、读取时序、写指令时序比较等几个重要的问题。

　　实例三，通过快速识别读写器问题以节省时间。解释了用户要了解环境情况，知道读写器在做什么、参数是否正确、如何用ACK指令获取EPC、ACK 时序和细节、通信详情、写指令细节、写时间、读写器信号、用M=4及FM0获取EPC等内容。

　　实例四，读写器性能测试。主要包括RAIN RFID 规格、测试需求、读写器接收灵敏度。

　　实例五，NFC测试。NFC Xplorer 监听器 + 读写器测试系统能通过数据和信号分析、时序和RF细节分析来测试一致性。NFC Xplorer还是一台标签/智能卡测试仪，可进行NFC互操作性测试，分析失效原因、进行性能优化、互通性性能和性能比较。

　　最重要的是，CISC Xplorer所有的测试结果最终都汇集成一份完整的测试报告，让用户一目了然。