如今，RFID技术应用已经进入高潮期，RFID标签的大批量应用已经屡见不鲜，但是就算是顶尖的RFID标签生产企业也不敢保证其生产的标签“万无一失”，在目前RFID仍受诟病的情况，一点小闪失就会产生大的影响。如何保证给客户提供的标签产品性能统一?在3月29-30日，2017(第十一届)RFID世界大会上，中科国技大客户经理李哲先生精彩分享了《标签性能的一致性解析》的演讲，详细介绍了影响标签性能一致性的因素和测试方法。

中科国技大客户经理李哲先生

　　中科国技是一家注册于北京中关村的高科技型企业，领先的EMC、RFID、OTA、材料测试、雷达天线测试方案提供商，已发布五大产品线、多种测试认证系统，旨在为无线通信与电磁兼容领域的客户提供集软件、硬件、专用仪表为一体的全方位测试解决方案，目前已与芬兰Voyantic、美国是德公司建立紧密的合作伙伴关系。

　影响生产标签性能不一致的因素

　　李经理在演讲中举例称，某一最终用户的应用场景需要标签读距达到6米才会避免漏读情况，图示标签经检测达到用户要求，但发现了漏读情况。经过检测发现，生产中标签性能的不一致导致了类似情况的发生。像这种情况如果发生，就会给终端用户带来不好的印象，认为RFID不能解决其问题，还不如人工来的可靠。因此，标签性能的一致性会成为阻碍RFID行业发展的一大因素。

　　随着全球800/900MHz RFID技术的飞速发展， 800/900MHz无源标签的全球年出货量已由09年的4亿片增长至2016年的约100亿片，各种RFID应用领域中标签使用量的增加，因标签之间的性能差异所造成的RFID应用问题也陆续浮现。李经理称，越来越多的RFID应用方和标签供应商开始关注标签性能一致性检测。

　　李经理指出，影响影响生产标签性能不一致的因素有很多，比如产线设备稳定性、胶水质量、热压温度、热压压力、天线工艺、封装工艺以及芯片选择等因素都会使标签之间的性能出现差异，甚至会出现标签无法工作的情况。而目前通用的标签产线检测设备只能检测出标签是否能够正常工作，却无法检测出每枚标签之间性能的偏差值。一般生产线上的抽检也无法完全统计并筛选出性能偏差过大的标签，而且该方法测试速度慢，无法满足对标签生产速度上的要求。针对以上情况，中科国际推出了标签性能一致性检测方案。

　　该测试方案的特点是可以高速的检测出性能不一的弱标签，配合复合设备检测速度可达8万枚/小时，配合卷对卷机架速度能达到5万枚/小时，提高了用户的检测效率。另外，该方案是开源的技术，可以通过RS-232等与厂家设备进行集成测试。目前该方案已经和纽豹的生产设备相互集成，可以显示每片标签的生产性能，并能形成详尽的检测报告，改善标签生产工艺。

中科国际检测方案覆盖各环节

　　中科国技是芯片、标签到系统应用的RFID测试技术领导者，从FPGA、芯片、标签产品问题定位测试，到高端认证实验室检测方案皆能提供。中科国技/Voyantic用户群包含了生产企业、学校研究所/实验室、最终用户、系统集成商等。

李经理称，从市场上看，国外的最终用户、系统集成商使用其检测设备的占公司销售份额的一半，在国内这部分客户基本没有，市场主要集中在生产企业和科研院校，这就说明我国对RFID技术的应用基础没有国外高，终端用户对RFID技术了解程度不够。据了解，中科国际在全球有超过550套RFID测试系统交付-75%的用户来源于国外市场。

　　中科国际可为客户提供标准认证检测方案、研发级测试方案、应用仿真/现场测试方案，涵盖了产品设计、研发、应用的各个环节。

　　其中，研发级测试方案可为用户提供标签测试/现场应用测试、标签芯片测试、读写器测试、标签弯曲特性检测服务，帮助用户更好的进行产品的设计，保障性能的产品性能的稳定可靠。应用仿真/现场测试方案可模拟RFID最核心的四种模型，比如室内、室外模型、密集反射的多径模型、高速度的多普勒模型，可用户现场的现场环境监控、应用盲点监控、盲点问题排查等。

　　此外，通用物联网终端性能测试平台支持Wi-Fi、蓝牙、Zigbee、2/3/4G、NB-IoT、LTE-V、RFID、ETC等产品的三维性能测试，以及600MHz-6GHz天线性能测试。

　　李经理最后总结称，RFID标签的性能一致性将越来越多的影响RFID行业市场推广，美国奥本大学RFID实验室已率先将标签性能一致性检测纳入标准实验室检测项目，中科国技/Voyantic愿持续提供国际领先的测试解决方案，为更多的RFID从业者提供服务。